| Prof. Dr.-Ing. T.
Harriehausen
Fachbereich Elektrotechnik |
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| Prof. Dr.-Ing. T.
Harriehausen
Fachbereich Elektrotechnik |
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| Literaturempfehlungen zur Vorlesung "Design for Testability" |
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| Titelbild | Beschreibung | ISBN | Signatur
Bibliothek FH WF |
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O'Connor, Patrick: Test Engineering.
John Wiley & Sons, 2001, ca. 270 Seiten, ca. € 80 Bei Wiley hier Bei Amazon hier |
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Black, Rex: Managing the Testing Process.
John Wiley & Sons, 2002, ca. 530 Seiten, ca. € 38 (Paperback) Bei Wiley hier Bei Amazon hier |
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| Titelbild | Beschreibung | ISBN | Signatur
Bibliothek FH WF |
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Herrmann, G. ; Müller, D.: ASIC - Entwurf und Test.
Hanser, 2004, ca. 380 Seiten, ca. € 30 Bei Hanser hier Bei Amazon hier |
3-446-21709-6 |
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Wojtkowiak, Hans: Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen.
Stuttgart : Teubner, 1988, ca. 230 Seiten, ca. € ? (vom Verlag nicht mehr lieferbar) |
3-519-02263-X |
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Bushnell, Michael L. ; Agrawal, Vishwani D.: Essentials
of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal
VLSI Circuits.
Springer, 2005, ca. 710 Seiten, ca. € 75 Sehr gut lesbar, thematisch sehr breit. Bei Springer hier Bei Amazon hier |
0-792-37991-8 |
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Abramovici, M. ; Breuer, M. A. ; Friedman, A.
D.: Digital Systems Testing and Testable Design.
New York : IEEE Press, 1994, ca. 650 Seiten, ca. € 100 Ein Standardwerk. Bei Amazon hier |
0-7803-1062-4 |
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Jha, N. K. ; Gupta Jha, N. K. ; Gupta, S.: Testing
of Digital Systems.
Cambridge University Press, 2003, ca. 1020 Seiten, ca. € 110 Bei Amazon hier |
0-521-77356-3 |
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Wang, L.-T. ; Wu, C.-W. ; Wen, X.: VLSI Test Principles
and Architectures: Design for Testability
Morgan Kaufmann Publishers, 2006, ca. 810 Seiten, ca. € 55 Bei Amazon hier |
0-123-70597-5 |
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Lala, Parag K.: Digital Circuit Testing and Testability.
Academic Press, 1997, ca. 200 Seiten, ca. 120 € Bei Amazon hier |
0-124-34330-9 |
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Mourad, Samiha ; Zorian, Yervant: Principles of
Testing Electronic Systems.
Wiley-Interscience, 2000, ca. 440 Seiten, ca. € 100 (Hardcover) Ausreichend für eine erste Einführung, thematisch vergleichsweise schmal. Bei Wiley hier Bei Amazon hier |
0-471-31931-7 |
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Wang, Francis C. ; Wong, Francis C.: Digital Circuit Testing:
A Guide to DFT and Other Techniques
Academic Press, 1991, ca. 230 Seiten, ca, € 140 Bei Amazon hier |
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Stroud, Charles E.: A Designer's Guide to Built-In
Self-Test.
Kluwer Academic Publishers, 2002, ca. xx Seiten, ca. € 130 Bei Amazon hier |
1-402-07050-0 |
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Cheng, Kwang-Ting ; Agrawal, Vishwani D.: Unified Methods for VLSI
Simulation and Test Generation.
Springer, 1989, ca. 160 Seiten, ca. € 100 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
0-7923-9025-3 |
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Wunderlich, Hans-Joachim: Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter
Entwurf und Test.
Berlin : Springer, 1991, ca. 560 Seiten, ca. € ? (= Habilitationsschrift) |
3-540-53456-3 |
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Beenker ; Bennetts ; Thijsen: Testability Concepts for Digital ICs.
The Macro Test Approach.
Kluwer Academic Publishers, 1995, ca. 220 Seiten, ca. € 120 Bei Amazon hier |
0-792-39658-8 |
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Yarmolik, V. N. ; Kachan, I. V.: Self-Testing
VLSI Design.
Elsevier, 1993, ca. 360 Seiten, ca. € 140 Bei Amazon hier |
0-444-89640-6 |
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Carletta, J. E.: Methodologies for Built-In
Self-Test Insertion in VLSI Circuits Across the Design Hierarchy.
Springfield, Va. : NTIS, 1996 |
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Olbrich, Thomas: Design-for-test and build-in self-test for integrated
systems.
Boston Spa : British Library Document Supply Centre, 2000 |
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Nicolaides, M. ; Zorian, Y. ; Pradhan, D. K.: On Line-Testing for
VLSI.
Springer, 1998, ca. 160 Seiten, ca. € 120 (Listenpreis ca. 176 €) Bei Springer hier Bei Amazon hier |
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Bardell, Paul H. ; McAnney, W. H. ; Savir, J.: Built
in Test for VLSI: Pseudorandom Techniques.
Wiley-Interscience, 1987, ca. 370 Seiten, ca. € 160 (vom Verlag nicht mehr lieferbar) Bei Amazon hier |
0-471-62463-2 |
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Crouch, Alfred L.: Design-For-Test For Digital IC's and Embedded
Core
Systems. Prentice Hall, 2000, ca. 350 Seiten, ca. € 70 (Taschenbuch) Bei Prentice Hall hier Bei Amazon hier |
0-13-084827-1 |
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Feugate, R. J. ; McIntyre, S. M.: Introduction to VLSI Testing.
Prentice Hall, 1988, ca. 290 Seiten, ca. € 30 (vom Verlag nicht mehr lieferbar) Bei Amazon hier |
0-134-98866-3 |
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Tsui, Frank F.: LSI/VLSI Testability Design.
McGraw-Hill, 1987, ca. 700 Seiten, ca. € 25 Bei Amazon hier |
0-070-65341-0 |
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Reghbati, Hassan R.: Tutorial: VLSI Testing and Validation Techniques.
IEEE Computer Society, 1985, ca. xx Seiten, Taschenbuch, ca. € 20 Bei Amazon hier |
0-818-60668-1 |
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| Agrawal, V. D. ; Seth, S. C.: Test Generation for VLSI Chips : Tutorial.
IEEE Computer Soc. Press, 1988, ca. xx Seiten, ca. € xx Bei Amazon nicht vorhanden |
0-8186-4786-8 |
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Lopez, R. T.-G. ; Ergang, K.: Testability Analysis. A Survey on
Methods and Applications.
TÜV Rheinland, 1987, ca. 220 Seiten, ca. € ?? Bei Amazon hier |
3-885-85402-3 |
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Chakrabarty, K.: SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play
Test Automation.
Springer, 2002, ca. 220 Seiten, ca. € 90 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
1-402-07205-8 |
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Larsson, Erik: Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design
and Optimization.
Springer, 2005, ca. 390 Seiten, ca. € 96 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
1-4020-3207-2 |
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Gizopoulos, Dimitris (Ed.): Advances in Electronic Testing. Challenges
and Methodologies.
Springer, 2006?, ca. 410 Seiten, ca. € 95 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
0-387-29408-2 |
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Jorczyk, Udo: Built-In Self-Test für Digitalschaltungen im
GHz-Bereich.
Dissertation, Universität Hannover, 1997, ca. 120 Seiten Bei Amazon nicht vorhanden |
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Zobrist, George W.: VLSI Fault Modeling and Testing Techniques.
Intellect Books, 1993, ca. 210 Seiten, ca. € 20 Bei Amazon hier |
0-893-91781-8 |
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| Chakradhar, S. T. ; Agrawal, V. D. ; Bushnell, M. L.: Neural Models
and Algorithms for Digital Testing.
Springer / Kluwer Academic Publishers, 1991, ca. 210 Seiten, ca. € ?? Bei Springer hier (vergriffen) Bei Amazon hier |
0-7923-9165-9 |
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Rajsuman, Rochit: Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault
Modeling and Testing.
Artech House Publishers, 1992, ca. 340 Seiten, ca. € 120 Bei Amazon hier |
0-890-06580-2 |
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Wagner, Lawrence C. (Ed.): Failure Analysis of Integrated Circuits.
Tools and Techniques.
Kluwer Academic Publishers, 1999, ca. 220 Seiten, ca. € 160 Bei Amazon hier |
0-412-14561-8 |
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Gulati, R. K. ; Hawkins, C. F. (Ed.): IDDQ Testing of VLSI Circuits.
Kluwer Academic Publishers, 1997, ca. 128 Seiten, ca. € 70 Bei Springer nicht mehr lieferbar Bei Amazon hier |
0-792-39315-5 |
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Rajsuman, Rochit: IDDQ Testing for CMOS VLSI.
Artech House Publishers, 1995, ca. 190 Seiten, ca. € 60 Bei Amazon hier |
0-890-06726-0 |
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Chakravarty, S. ; Thadikaran, P. J.: Introduction to IDDQ testing.
Kluwer, 1997, ca. 340 Seiten, ca. € 240 Bei Amazon hier |
0-7923-9945-5 |
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Krstic, A. ; Cheng, K.-T. T.: Delay Fault Testing for VLSI Circuits.
Springer, 1998, ca. 210 Seiten, ca. € 200 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
0-792-38295-1 |
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| Dissertationen etc: | |||
| Titelbild | Beschreibung | ISBN | Signatur
Bibliothek FH WF |
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Kabisatpathy, P. ; Barua, A. ; Sinha, S.: Fault Diagnosis of Analog
Integrated Circuits.
Springer, 2005, ca. 180 Seiten, ca. € 107 Bei Springer hier |
0-387-25742-X |
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Pronath, Michael: Test Design for Analog Integrated Circuits.
Dr. Hut, 2006, ca. 190 Seiten, Taschenbuch, ca. € xx Bei Amazon hier |
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| Zeitschriftenartikel:
Lubaszewski, M.; Mir, S.; Pulz, L.: ABILBO: Analog BuILt-in Block Observer. In: Proc. ICCAD '96 |
| Titelbild | Beschreibung | ISBN | Signatur
Bibliothek FH WF |
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Burns, Mark ; Roberts, Gordon W.: Introduction
To Mixed-Signal IC Test and Measurement.
Oxford University Press, 2001, ca. 700 Seiten, ca. € 130 Bei Amazon hier |
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Vinnakota, Bapiraju (Ed.): Analog and Mixed-Signal Test.
Prentice Hall, 1998, ca. 260 Seiten, ca. € 70 (vom Verlag nicht mehr lieferbar) Bei Amazon hier |
0-13-786310-1 |
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Lowe, Brian: The Fundamentals of Mixed Signal Testing.
Soft Test, 2002, ca. 330 Seiten, ca. € 100 Kursunterlage zu einem Kurs der Fa. Soft Test. Bei Amazon Deutschland nicht vorhanden |
0-965-87972-0 |
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Roberts, Gordon W. ; Lu, Albert K.: Analog Signal Generation for
Built-In-Self-Test
of Mixed-Signal Integrated Circuits.
Kluwer Academic Publishers, 1995, ca. 140 Seiten, ca. € 150 (gebraucht fast geschenkt) Bei Amazon hier |
0-7923-9564-6 |
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Baker, Mark: Demystifying Mixed Signal Test Methods.
Mewnes, 2003, ca. 280 Seiten, ca. € 60 (ab 40 €) Bei Amazon hier |
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Huertas, J. L.: Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal
Integrated Circuits.
Springer, 2004, ca. 300 Seiten, ca. € 100 (Listenpreis ca. 120 €) Bei Springer hier Bei Amazon hier |
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Huertas Sanchez, G. ; Vazquez Garcia de la Vega, D.: Rueda Rueda,
A. ; Huertas Diaz, J. L.: Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits.
Springer, 2007, ca. 440 Seiten, ca. € 112 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
1-4020-5314-2 |
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Osseiran (Hrsg.): Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan. A Guide
to the IEEE 1149.4 Test Standard.
Springer / Kluwer Academic Publishers, 1999, ca. 176 Seiten, ca. € 110 Bei Amazon hier |
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Sachdev, Manoj ; Pineda de Gyvez, Jose: Defect Oriented Testing
for CMOS Analog and Digital Circuits.
Springer, 2007, ca. 330 Seiten, ca. € 130 Bei Springer hier Bei Amazon hier |
0-387-46546-4 |
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Mahoney, Matthew: DSP-Based Testing of Analog and Mixed-Signal Circuits.
John Wiley & Sons, 1987, ca. 270 Seiten, Taschenbuch, ca, € 50 Bei Amazon hier |
0-818-60785-8 |
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Dissertationen etc.: |
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Ohletz, M. J.: Selbsttest monolithischer analog-digitaler Schaltungen.
Dissertation, Universität Hannover, 1989 |
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Schmitz, Christian: Methoden zum automatischen Test von digitalen,
analogen und Mixed-Signal-Schaltungen.
Fortschritt-Berichte / VDI : Reihe 8, Mess-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; Nr. 420 VDI-Verl., 1994 Bei Amazon nicht vorhanden |
3-18-342008-2 |
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Balivada, Ashok: Structured test generation techniques for analog
and mixed signal circuits.
Dissertation, Austin, University of Texas, 1996 und Bell & Howell Information and Learning, 1997 Bei Amazon nicht vorhanden |
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Nagi, Naveena: A comprehensive test framework for analog and mixed-signal
circuits.
Dissertation, Austin, University of Texas, 1994 und Ann Arbor, Mich. : Univ. Microfilms Internat., 1998 |
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Hurst, Stanley L.: VLSI Testing. Digital and mixed analogue/digital
techniques.
Institution of Electrical Engineers, 1998, ca. 560 Seiten, ca. € 100 Bei Amazon US hier |
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Pan, Chen-Yang: Built-in Self-Test and Fault Simulation for Analog/Mixed-Signal
Circuits.
Dissertation, University of California, 1997 und Ann Arbor, Mich. : Bell & Howell Information and Learning, 1998, ca. xx Seiten |
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Stroud, C. E. ; Bradley, E. B.: Mixed Signal Built-In Self-Test
for Analog Circuits.
Dissertation?, University of Kentucky, 1999 Springfield, Va. : NTIS, 1999, Mikrofiche-Ausgabe. Abstract hier |
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Chen, Jin: Fault Modeling and Test Techniques for Analog and Mixed-Signal
Circuits.
Dissertation, Austin, University of Texas und Ann Arbor, Mich. : Bell & Howell Information and Learning, 1999 |
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Xu, Fang: Built-In Self-Test for Mixed-Signal Components on Multichip
Modules.
Shaker, 2001, ca. 150 Seiten, ca. € 45 Bei Amazon hier |
3-826-59398-7 |
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Hongzhi, Li: A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal
integrated circuits.
Dissertation, Erlangen, Universität, Technische Fakultät, 2004, ca. 180 Seiten |
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Aufsätze:
Stroud, C. ; Karunaratna, P. ; Bradley, E.: Digital Components for
Built-In Self-Test of
Sax, E. ; Krampl, G. ; Miegler, M. ; Sattler, S.: A Common Mixed-Signal
Testbench for Design Verfication and Test.
Sattler, Sebastian: VIRTUS : virtuelle, analoge und mixed-signal
Test Entwicklung und Verifikation.
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Kongresse:
IEEE International Mixed Signal Testing Workshop : IMSTW (jährlich seit 1995) |
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| Standards: |
| Titelbild | Beschreibung | ISBN | Signatur
Bibliothek FH WF |
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Schreiber, Stephen F.: Building a Successful Board-Test Strategy.
Butterworth-Heinemann, 2001, ca. 360 Seiten, ca. € 60 Bei Amazon hier |
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| Titelbild | Beschreibung | ISBN | Signatur
Bibliothek FH WF |
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Spillner, Andreas; Linz, Tilo: Basiswissen Softwaretest.
Dpunkt Verlag, 2005, ca. 300 Seiten, ca. € 40 Bei Amazon hier |
3-898-64358-1 |
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Spillner, A. ; Roßner, T. ; Winter, W. ; Linz, T.: Praxiswissen
Softwaretest - Testmanagement.
Dpunkt Verlag, 2006, ca. 320 Seiten, ca. € 40 Bei Amazon hier |
3-898-64275-5 |
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Perry, W. E. ; Rice, R. W.: Die zehn goldenen Regeln des Software-Testens.
mitp, 2002, ca. 300 Seiten, ca. € 20 Bei Amazon hier |
3-826-60928-X |
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Perry, William E.: Effective Methods for Software Testing.
Wiley & Sons, 2006, ca. 1000 Seiten, ca. € 62 Bei Wiley hier bei Amazon hier |
0-7645-9837-6 |
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 |
Myers, Glenford J.: Methodisches Testen von Programmen.
Oldenbourg, 2001, ca. 180 Seiten, ca. € 40 Bei Oldenbourg hier Bei Amazon hier |
3-486-25634-3 |
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 |
Liggesmeyer, Peter: Software-Qualität. Testen, Analysieren
und Verifizieren von Software.
Spektrum Akademischer Verlag, 2002, ca. 500 Seiten, ca. € 55 Bei Amazon hier |
3-827-41118-1 |
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 |
Thaller, Georg E.: Software-Test. Verifikation und Validation.
Heise, 2002, ca. 380 Seiten, ca. € 44 Bei Amazon hier |
3-882-29198-2 |
|
 |
Pol, M. ; Koomen, T. ; Spillner, A.: Management und Optimierung
des Testprozesses.
Dpunkt Verlag, 2002, ca. 540 Seiten, ca. € 52 Bei Amazon hier |
3-898-64156-2 |
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Hutcheson, Marnie L.: Software Testing Fundamentals. Methods and
Metrics.
Wiley & Sons, 2003, ca. 460 Seiten, ca. € 43 Bei Wiley hier Bei Amazon hier |
0-471-43020-X |
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Rätzmann, Manfred: Software-Testing & Internationalisierung
- Rapid Application Testing, Softwaretest, Agiles Qualitätsmanagement.
Galileo Press, 2004, ca. 380 Seiten, ca. € 45 Bei Amazon hier |
3-898-42539-8 |
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Wallmüller, Ernest: Software-Qualitätsmanagement in der
Praxis.
Hanser Fachbuchverlag, 2001, ca. 480 Seiten, ca. € 50 Bei Hanser hier Bei Amazon hier |
3-446-21367-8 |
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Myers, G. J. ; Sandler, C. ; Badgett, T. ; Thomas, T. M.: The Art
of Software Testing.
John Wiley & Sons, 2004, ca. 230 Seiten, ca. € 115 bei Wiley hier Bei Amazon hier Ein Klassiker, allerdings nicht mehr ganz aktuell. |
0-471-46912-2 |
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Kaner, C. ; Falk, J. ; Nguyen, H. Q.: Testing Computer Software.
John Wiley & Sons, 1999, ca. 480 Seiten, ca. 45 € Bei Wiley hier Bei Amazon hier |
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Tian, Jeff: Software Quality Engineering.
John Wiley & Sons, 2005, ca. 410 Seiten, ca. € 65 Bei Wiley hier Bei Amazon hier |
0-471-71345-7 |
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 |
Black, Rex: Critical Testing Processes. Plan, Prepare, Perform,
Perfect.
Addison-Wesley Professional, 2003, ca. 550 Seiten, ca. € 50 Bei Addison-Wesley hier Bei Amazon hier |
0-201-74868-1 |
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Broekman, Bart; Notenboom, Edwin: Testing Embedded Software.
Addison Wesley, 2002, ca. 370 Seiten, ca. € 55 Bei Addison-Wesley hier Bei Amazon hier |
0-321-15986-1 |
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 |
Moro, Martin: Modellbasierte Qualitätsbewertung von Softwaresystemen.
Books on Demand, 2004, ca. 450 Seiten, ca. € 40 Bei Amazon hier |
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Spillner, A. ; Linz, T. ; Schaefer, H.: Software Testing Foundations.
Dpunkt Verlag, 2006, ca. 270 Seiten, ca. 40 € Bei Amazon hier |
3-898-64363-8 |
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 |
Dustin, Elfriede: Effective Software Testing. 50 Specific Ways
to Improve Your Software Testing.
Addison Wesley, 2003, ca. 240 Seiten, ca. € 30 Bei Addison-Wesley hier Bei Amazon hier |
0-201-79429-2 |
|
 |
Dustin, E. ; Rashka, J. ; Paul, J.: Automated Software Testing.
Introduction, Management and Performance.
Addison Wesley, 1999, ca. 400 Seiten, ca. € 45 Bei Addison-Wesley hier Bei Amazon hier |
0-201-43287-0 |
|
 |
Craig, R. D. ; Jaskiel, S. P.: Systematic Software Testing.
Artech House Publishers, 2002, ca. 570 Seiten, ca. € 65 Bei Amazon hier |
1-580-53508-9 |
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 |
Hambling, Brian (Hrsg.): Software Testing: An ISEB Foundation.
British Computer Society, 2006, ca. 190 Seiten, ca. € 33 Bei Amazon hier |
1-902-50579-4 |
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 |
Whittaker, James A.: How to Break Software. A Practical Guide to
Testing.
Addison Wesley, 2002, ca. 190 Seiten, ca. € 40 Bei Addison-Wesley hier Bei Amazon hier |
0-201-79619-8 |
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Langworth, Ian: Perl Testing. A Developer's Notebook.
O'Reilly, 2005, ca. 180 Seiten, ca. € 25 Bei Amazon hier |
0-596-10092-2 |
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Letzte Änderung: 20.4.2007;
Copyright
©  Prof.
Dr. T. Harriehausen,
Fachhochschule Braunschweig/Wolfenbüttel,
Fachbereich Elektrotechnik |